Este dispositivo está creado para aplicaciones de difracción de rayos X de QA/QC académicas y rutinarias. Ocupa un tercio del espacio de un difractómetro convencional, se lo puede transportar a cualquier lado y brinda flexibilidad. No requiere de refrigeración por agua externa y se conecta a una corriente estándar, detectando en tiempo real de modo específico todas las mediciones en pocos segundos.

Mide los picos de difracción simultáneamente en un amplio rango angular, completando el análisis de las muestras en solo unos minutos. Su medición en tiempo real es a más de 110° 2Ø, no requiere escaneo. La fuente de rayos X es de alta intensidad, el agua externa no necesita refrigeración y es enchufable a una fuente de alimentación estándar.

Muchos portamuestras están disponibles para polvos en modo transmisión y reflexión, graneles películas delgadas, estudios in-situ y análisis automatizados, debido a su cambiador de muestras dedicado.

Es fácil de usarlo y se lo puede instalar en laboratorios, laboratorios móviles o furgonetas. Se realiza el tratamiento y aplicaciones para la identificación de fases, la cuantificación, el grado de cristalinidad, el parámetro de la celda, el tamaño de cristalito, la deformación de la red, la estructura cristalina, el análisis de Rietveld, la fase de transición y el análisis de película delgada (GIXRD, XRR).